PDF JPG
本書有DRM加密保護,需使用HyRead閱讀軟體開啟
  • 談美國現行專利標的適格性判準之爭議及其政策意涵
  • 點閱:46
  • 並列題名:A discussion on the current test for patent eligibility in the U.S.
  • 作者: 李森堙著
  • 出版社:國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
  • 出版年:2019[民108]
  • EISBN:9789576192647 PDF
  • 格式:PDF,JPG
  • 附註:STPI-D-E-OT-107-2 部分內容中英對照

本文針對美國現行專利標的適格性判準之爭議進行討論與分析,並從三個面向切入討論,美國現行專利標的適格性判準是否有效地實踐其所被預設的政策價值,以及其所立基的政策價值是否適切等課題。

  • 中文摘要(第I頁)
  • Abstract(第II頁)
  • 執行摘要(第III頁)
  • 第一章 前言(第1頁)
  • 第二章 兩個法院間的未完成對話(第9頁)
    • 2.1 兩階段判準之問題:美國聯邦巡迴上訴法院法官觀點(第14頁)
    • 2.2 兩個法院的不同風格(第17頁)
    • 2.3 小結:應持續進行的專利政策對話(第20頁)
  • 第三章 認定「抽象概念」是個難題(第22頁)
    • 3.1 電腦技術改良並非抽象概念(第24頁)
    • 3.2 小結:以社會性來劃定社會與科技之界線或更為適切(第28頁)
  • 第四章 認定「顯著超出」亦是個難題(第32頁)
    • 4.1 認定習知、例行、慣常活動是事實問題(第35頁)
    • 4.2 小結:規範專利標的適格性的價值與意義(第38頁)
  • 第五章 代結論:專利制度的政策意涵(第39頁)
  • 參考文獻(第41頁)
紙本書 NT$ 0
單本電子書
NT$ 0
還沒安裝 HyRead 3 嗎?馬上免費安裝~
QR Code